g)發(fā)射掃描電鏡"/>
供應(yīng)日立(二手)場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM 430型號(hào)掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,主要用于獲得納米尺寸級(jí)別的樣品表面形貌信息,可在高真空下實(shí)現(xiàn)高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測(cè)。配備兩種物鏡模式(浸沒(méi)式和無(wú)場(chǎng)式)。配備紅外CCD檢測(cè)相機(jī),極靴內(nèi)二次電子檢測(cè)器,通用ET二次電子檢測(cè)器,低真空二次電子檢測(cè)
更新時(shí)間:2024-02-29
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